顆粒計數能夠較好地預估磨損情況的嚴重性，并且很容易檢測出顆粒從小到大的轉變趨勢。顆粒計數通常使用以下技術:光阻法、直接成像或孔阻塞柱塞法等技術。

1，關于光阻技術

      光(guang)阻技術，受到重合效(xiao)應(顆粒重疊)和煙(yan)炱顆粒的(de)干擾。因(yin)此(ci)，該方法僅適用于分(fen)析在(zai)污染控(kong)制(zhi)工業中(zhong)與機器內部接觸較少的(de)清潔(jie)半透明油液

2，關于直接成像

      直(zhi)接成像技術(shu)，通過使(shi)用CCD傳感(gan)器(qi)處理更大面積上(shang)的顆(ke)粒來計算重合效應。樣(yang)(yang)品(pin)通過脈沖激光(guang)(guang)二(er)極管(guan)照射，可以將(jiang)稀釋前(qian)樣(yang)(yang)品(pin)的光(guang)(guang)通量提高(gao)到(dao)約2%，并(bing)克服樣(yang)(yang)品(pin)中煙炱顆(ke)粒的影響。

3，孔阻塞柱塞法

     傳統的孔阻(zu)塞裝置類似于(yu)光(guang)學顆粒計數(shu)器(qi)，因為，其在顆粒物(wu)相對低(di)的水平下就(jiu)會達到量程上限，所以不適合于(yu)精確量化機器(qi)中嚴重污染(ran)磨損的樣品(pin)。然而，它(ta)們(men)在處理含有(you)碳煙或水的油液樣品(pin)時(shi)，更(geng)有(you)優(you)勢，因為這些污染(ran)物(wu)可以順利(li)通(tong)過孔而不增加信號輸出。這是孔堵塞技術(shu)(shu)優(you)于(yu)光(guang)阻(zu)擋(dang)和直接(jie)成像技術(shu)(shu)的主(zhu)要(yao)優(you)點。