產品介紹

波長色散X射線熒光光譜儀

一、簡介

 波長色散X射線熒光光譜儀S8 TIGER 4K有著高精密度和高準確度的*元素分析技術，和化學價態無關，直接的、非破壞性地分析固體、松散粉末和液體樣品，制樣容易，只需幾分鐘，操作方法安全，無需有害化學試劑。其分析性能很好，激發電流170mA，激發電壓60kV，可以4KW滿功率運行，輕元素分析性能也很好，光路靈活，無需壓縮空氣，機柜防塵涉及，占地面積小。

二(er)、特點

1、高透光性的真空封擋

 在(zai)測(ce)量液(ye)(ye)(ye)體(ti)(ti)和松散粉末(mo)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)時(shi)，程(cheng)序控制(zhi)的(de)真(zhen)空(kong)(kong)封(feng)檔(dang)將樣(yang)(yang)品(pin)(pin)室(shi)和光譜室(shi)分(fen)(fen)開，允許在(zai)固(gu)體(ti)(ti)和液(ye)(ye)(ye)體(ti)(ti)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)的(de)分(fen)(fen)析之間快速地(di)切(qie)換。由于只(zhi)有(you)很小(xiao)的(de)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)室(shi)充氦氣(qi)（氮(dan)氣(qi)），真(zhen)空(kong)(kong)封(feng)擋顯著地(di)降低氣(qi)體(ti)(ti)消耗(hao)量，同(tong)時(shi)探測(ce)器的(de)穩定性更高(gao)，結果的(de)精(jing)密度更好。在(zai)測(ce)量過程(cheng)中，*的(de)真(zhen)空(kong)(kong)封(feng)擋也(ye)可以在(zai)液(ye)(ye)(ye)體(ti)(ti)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)泄漏(lou)或(huo)有(you)粉塵(chen)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)時(shi)保護(hu)光譜室(shi)，防止被污(wu)染。真(zhen)空(kong)(kong)封(feng)擋是S8 TIGER的(de)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)保護(hu)TM包的(de)一部分(fen)(fen)。

2、高精度(du)光學定(ding)位(wei)測角儀

 采用(yong)高精度光學(xue)定(ding)位(wei)測(ce)角(jiao)(jiao)儀，定(ding)位(wei)精度高，測(ce)角(jiao)(jiao)儀直(zhi)接到達(da)預設角(jiao)(jiao)度，快速(su)連續前進，無需(xu)反復調整，長期(qi)運行沒有磨損。角(jiao)(jiao)度準確度優于±0.001°，角(jiao)(jiao)度重(zhong)現性優于±0.0001°,大掃描速(su)度1200°/分(fen)(fen)鐘(zhong)(zhong)，大轉角(jiao)(jiao)速(su)度4800°/分(fen)(fen)鐘(zhong)(zhong)。

3、*的變動理論α系數法

 采用(yong)(yong)基(ji)本參數(shu)(shu)(shu)(shu)法單獨地計算每一個(ge)樣品的(de)校(xiao)正系(xi)(xi)數(shu)(shu)(shu)(shu)，從(cong)而進行全面的(de)集成的(de)基(ji)體效(xiao)應校(xiao)正，這就(jiu)是變動理(li)(li)論(lun)α系(xi)(xi)數(shu)(shu)(shu)(shu)法。其較顯著(zhu)的(de)優點是：需要的(de)標樣量少、校(xiao)正系(xi)(xi)數(shu)(shu)(shu)(shu)更可(ke)(ke)靠、校(xiao)準曲線(xian)可(ke)(ke)以(yi)(yi)適當延(yan)伸(shen)、操作(zuo)方(fang)便、不(bu)需要很多的(de)經(jing)驗(yan)(yan)來選擇影響元素、對(dui)于(yu)(yu)大(da)的(de)材(cai)料(liao)范圍和很寬(kuan)的(de)濃度范圍都可(ke)(ke)以(yi)(yi)得到可(ke)(ke)靠的(de)結果。同時(shi)兼容固(gu)定(ding)理(li)(li)論(lun)α系(xi)(xi)數(shu)(shu)(shu)(shu)法、經(jing)驗(yan)(yan)α系(xi)(xi)數(shu)(shu)(shu)(shu)法基(ji)體效(xiao)應校(xiao)正，三種校(xiao)正模式也可(ke)(ke)以(yi)(yi)混合使用(yong)(yong)。對(dui)于(yu)(yu)固(gu)定(ding)理(li)(li)論(lun)α系(xi)(xi)數(shu)(shu)(shu)(shu)法、變動理(li)(li)論(lun)α系(xi)(xi)數(shu)(shu)(shu)(shu)法、經(jing)驗(yan)(yan)系(xi)(xi)數(shu)(shu)(shu)(shu)法及混合校(xiao)正方(fang)法只需一個(ge)用(yong)(yong)戶(hu)界面解決所有問題，非常易于(yu)(yu)使用(yong)(yong)。

4、*的未知燒失量校(xiao)正(zheng)

 對于燒(shao)(shao)失(shi)量(liang)(liang)(liang)或(huo)燒(shao)(shao)增量(liang)(liang)(liang)很大(da)的(de)樣品，通常的(de)做法是將樣品預先灼(zhuo)燒(shao)(shao)，然后根據燒(shao)(shao)失(shi)量(liang)(liang)(liang)進行(xing)反算(suan)(suan)或(huo)將燒(shao)(shao)失(shi)量(liang)(liang)(liang)輸入(ru)到基體校正公式進行(xing)校正，分(fen)(fen)析全鐵的(de)時候還有用(yong)鈷做內標的(de)。布(bu)魯克未(wei)知燒(shao)(shao)失(shi)量(liang)(liang)(liang)校正功能不(bu)用(yong)測(ce)量(liang)(liang)(liang)燒(shao)(shao)失(shi)量(liang)(liang)(liang)，軟件(jian)會根據其它分(fen)(fen)析成分(fen)(fen)估算(suan)(suan)一(yi)個LOI，然后經過多次迭(die)代和擬合，無需(xu)知道燒(shao)(shao)失(shi)量(liang)(liang)(liang)也可以進行(xing)準確(que)的(de)燒(shao)(shao)失(shi)量(liang)(liang)(liang)校正，大(da)大(da)地提高了分(fen)(fen)析速度(du)也節約了分(fen)(fen)析成本。

5、角(jiao)度偏移(yi)校正

 校正價(jia)態、礦源差異等引(yin)起的峰位(wei)位(wei)移，測(ce)量結果更準確。

6、幾(ji)何校正(zheng)

 通過直徑(jing)–厚(hou)度(du)–密度(du)、直徑(jing)–厚(hou)度(du)–質(zhi)量或直徑(jing)–質(zhi)量–密度(du)三(san)種樣品制備選(xuan)項對未達到X射線穿透飽和深度(du)的(de)樣品進(jin)行幾何(he)校正，從而得到更準確的(de)測(ce)量結果(guo)。

7、制樣校正(zheng)軟件

 對用(yong)熔融制樣(yang)(yang)(yang)或粉末(mo)樣(yang)(yang)(yang)需加粘合劑的(de)制樣(yang)(yang)(yang)方法，采用(yong)任意配比、隨(sui)意稱(cheng)量、準確輸入(ru)的(de)方法，稱(cheng)樣(yang)(yang)(yang)誤差小，稱(cheng)樣(yang)(yang)(yang)速度快，不同的(de)制樣(yang)(yang)(yang)方法可(ke)以共用(yong)同一工作曲線。

8、P10氣(qi)體(ti)密度穩定器

 在P10氣(qi)(qi)體(ti)鋼瓶與流(liu)氣(qi)(qi)正比(bi)計(ji)(ji)數器之間安裝(zhuang)有氣(qi)(qi)體(ti)密(mi)度(du)穩定(ding)器，使(shi)探(tan)測(ce)器里的氣(qi)(qi)體(ti)密(mi)度(du)始終保持恒(heng)定(ding)，保證(zheng)測(ce)量結(jie)果精密(mi)度(du)更高。流(liu)氣(qi)(qi)計(ji)(ji)數器采用(yong)數字式壓力控制(zhi)，控制(zhi)更精密(mi)。

9、高穩定(ding)性的(de)光譜室

 光(guang)譜室(shi)溫度(du)穩定(ding)性優于±0.05℃，避免了溫度(du)變化(hua)引(yin)起(qi)分光(guang)晶體(ti)的面間距變化(hua)，從而引(yin)起(qi)被測量(liang)元素光(guang)子衍射(she)角度(du)的變化(hua)。

10、采(cai)用真(zhen)空度(du)控(kong)制測量

 對(dui)于固體樣品(pin)，采用(yong)真空度(du)控制測量，只有達(da)到預設的真空度(du)才開(kai)始(shi)測量，避(bi)免(mian)了吸潮樣品(pin)在測試階段真空度(du)的不*引起強(qiang)度(du)計數的差異。